光通訊設備、量測設備與系統整合,澤群致力成為您的最佳助力!
DPF ISS 系列校準片使用說明.rev.B.pdf
Probe ISS_101D100-250_datasheet_RevA.pdf
Probe ISS_101D250-500_datasheet_RevB.pdf
Probe ISS_10-01D100-150_datasheet_RevA.pdf
Probe ISS_10-01D150-250_datasheet_RevA.pdf
Probe ISS_101D250-1250_datasheet_RevA.pdf
Probe ISS_10-01D75-250_datasheet_RevA.pdf
Probe ISS_10101D150_datasheet_RevA.pdf
Probe ISS_1001D100_datasheet_RevA(1).pdf
探針校準片支援各種晶片測試級探針校準。使用向量網路分析儀測試時,探針配合校準片校準後,能夠精準測試片上高頻性能。德普福校準片提供SOLT,TRL等校準方法。還可以根據客戶實際應用需求,支援客製化!